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DATA ARCHIEVE

서울소재 기업들의 다양한 연구장비 활용을 도모하고자 서울주요 대학에서 보유하고 있는 연구장비 현황을 제공합니다.

No. 장비명
195

주사전자현미경 (FE-SEM)

모델명 : JSM-7100F | 제작사 : JEOL | 구입년도 : 2013
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 동국대학교 공용기기원

194

주사전자현미경 (EDS-SEM)

모델명 : HITACHI S-3000N | 제작사 : HITACHI NSTRUMENTS | 구입년도 : 2009
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 동국대학교 공용기기원

193

주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope)

모델명 : CX-100S | 제작사 : COXEM | 구입년도 : 2010
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 한국외국어대학교 공동기기원

192

주사전자현미경 (Scanning electron microscopy)

모델명 : S-4800 | 제작사 : HITACHI | 구입년도 : 2009
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 가톨릭대학교 성심공동기기센터

191

주사전자현미경 (국제) (FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope))

모델명 : JSM-7100F | 제작사 : JEOL | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 연세대학교 공동기기원

190

주사전자현미경 6701F (Field Emission Scanning Electron Microscope(JEOL-6701F))

모델명 : JSM-6701F | 제작사 : JEOL Ltd. | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 연세대학교 공동기기원

189

주사전자현미경(EDX포함) (Scanning Electron Microscope (SEM/EDX))

모델명 : S-3500N | 제작사 : Hitachi | 구입년도 : 2001
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 명지대학교 산학협력단 공동기기원

188

주사전자현미경-도자기 (SEM(Scanning Electron Microscope))

모델명 : SS-550 | 제작사 : SHIMADZU | 구입년도 : 2007
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 분석 | 보유기관 : 명지대학교 산학협력단 공동기기원

187

주사탐침현미경 (SPM)

모델명 : MULTIMODE SPM | 제작사 : VEECO | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 기타 | 보유기관 : 고려대학교 공과대학

186

주사탐침현미경 (Scanning Probe Microscope)

모델명 : SPA-400(Japan), Albatross(Korea) | 제작사 : | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 서울대학교 기초과학공동기기원