DATA ARCHIEVE
서울소재 기업들의 다양한 연구장비 활용을 도모하고자 서울주요 대학에서 보유하고 있는 연구장비 현황을 제공합니다.
No. | 장비명 |
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195 |
주사전자현미경 (FE-SEM)
모델명 :
JSM-7100F
| 제작사 :
JEOL
| 구입년도 :
2013
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194 |
주사전자현미경 (EDS-SEM)
모델명 :
HITACHI S-3000N
| 제작사 :
HITACHI NSTRUMENTS
| 구입년도 :
2009
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193 |
주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope)
모델명 :
CX-100S
| 제작사 :
COXEM
| 구입년도 :
2010
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192 |
주사전자현미경 (Scanning electron microscopy)
모델명 :
S-4800
| 제작사 :
HITACHI
| 구입년도 :
2009
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191 |
주사전자현미경 (국제) (FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope))
모델명 :
JSM-7100F
| 제작사 :
JEOL
| 구입년도 :
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190 |
주사전자현미경 6701F (Field Emission Scanning Electron Microscope(JEOL-6701F))
모델명 :
JSM-6701F
| 제작사 :
JEOL Ltd.
| 구입년도 :
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189 |
주사전자현미경(EDX포함) (Scanning Electron Microscope (SEM/EDX))
모델명 :
S-3500N
| 제작사 :
Hitachi
| 구입년도 :
2001
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188 |
주사전자현미경-도자기 (SEM(Scanning Electron Microscope))
모델명 :
SS-550
| 제작사 :
SHIMADZU
| 구입년도 :
2007
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187 |
주사탐침현미경 (SPM)
모델명 :
MULTIMODE SPM
| 제작사 :
VEECO
| 구입년도 :
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186 |
주사탐침현미경 (Scanning Probe Microscope)
모델명 :
SPA-400(Japan), Albatross(Korea)
| 제작사 :
| 구입년도 :
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