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DATA ARCHIEVE

서울소재 기업들의 다양한 연구장비 활용을 도모하고자 서울주요 대학에서 보유하고 있는 연구장비 현황을 제공합니다.

No. 장비명
95

표면분석기 DektakXT (Surface Profiler(DektakXT))

모델명 : DektakXT Stylus Profiler | 제작사 : Bruker | 구입년도 :
분류 : 물리적측정장비 | 용도 : 계측 | 보유기관 : 연세대학교 공동기기원

94

표면분석장치 (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)

모델명 : SIGMA PROBE | 제작사 : | 구입년도 :
분류 : 화합물전처리/분석장비 | 용도 : 분석 | 보유기관 : 서울대학교 기초과학공동기기원

93

표면오염 측정기 (Surface Contamination Monitor)

모델명 : RADOS Microcont | 제작사 : RADOS | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 계측 | 보유기관 : 경희대학교 공동기기원

92

표면장력계 (Automatic Force Tensiometer )

모델명 : KSV Model Sigma 702 | 제작사 : | 구입년도 :
분류 : 물리적측정장비 | 용도 : 분석 | 보유기관 : 경희대학교 공동기기원

91

표면장력측정장치 (Processor Tensiometer/Du Nuoy Ring)

모델명 : K100 | 제작사 : KR?S | 구입년도 : 2005
분류 : 물리적측정장비 | 용도 : 분석 | 보유기관 : 동국대학교 공용기기원

90

표면적 및 기공크기 측정장치 M (Surface area & Pore size analyzer (M))

모델명 : ASAP 2020 | 제작사 : MICROMERITICS | 구입년도 : 2003
분류 : 화합물전처리/분석장비 | 용도 : 분석 | 보유기관 : 명지대학교 산학협력단 공동기기원

89

표면조도측정시스템 (Surface Roughness)

모델명 : SJ-301 | 제작사 : Mitutoyo(일본) | 구입년도 : 2009
분류 : 물리적측정장비 | 용도 : 계측 | 보유기관 : 서울과학기술대학교 공동실험실습관

88

푸리에 변화 적외선 분광 광도계 (Fourier Transform Infrared Spectroscopy )

모델명 : IRAffinity-1 | 제작사 : Shimadzu | 구입년도 : 2011
분류 : 화합물전처리/분석장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 가톨릭대학교 성심공동기기센터

87

푸리에 변환 적외선 분광기 (FT-IR(Fourier Transform Infrared Spectroscopy))

모델명 : Agilent Cary 630 FTIR | 제작사 : Agilent Technologies | 구입년도 : 2015
분류 : 화합물전처리/분석장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 고려대학교 생명과학대학기기센터

86

푸리에 변환 적외선 분광기 (FT-IR Fourier Transform Infrared Spectrometer)

모델명 : TENSOR27 (Bruker) | 제작사 : Bruker | 구입년도 :
분류 : 화합물전처리/분석장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 서울대학교 기초과학공동기기원