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DATA ARCHIEVE
서울소재 기업들의 다양한 연구장비 활용을 도모하고자 서울주요 대학에서 보유하고 있는 연구장비 현황을 제공합니다.
| No. | 장비명 |
|---|---|
| 95 |
표면분석기 DektakXT (Surface Profiler(DektakXT))
모델명 :
DektakXT Stylus Profiler
| 제작사 :
Bruker
| 구입년도 :
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| 94 |
표면분석장치 (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)
모델명 :
SIGMA PROBE
| 제작사 :
| 구입년도 :
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| 93 |
표면오염 측정기 (Surface Contamination Monitor)
모델명 :
RADOS Microcont
| 제작사 :
RADOS
| 구입년도 :
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| 92 |
표면장력계 (Automatic Force Tensiometer )
모델명 :
KSV Model Sigma 702
| 제작사 :
| 구입년도 :
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| 91 |
표면장력측정장치 (Processor Tensiometer/Du Nuoy Ring)
모델명 :
K100
| 제작사 :
KR?S
| 구입년도 :
2005
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| 90 |
표면적 및 기공크기 측정장치 M (Surface area & Pore size analyzer (M))
모델명 :
ASAP 2020
| 제작사 :
MICROMERITICS
| 구입년도 :
2003
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| 89 |
표면조도측정시스템 (Surface Roughness)
모델명 :
SJ-301
| 제작사 :
Mitutoyo(일본)
| 구입년도 :
2009
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| 88 |
푸리에 변화 적외선 분광 광도계 (Fourier Transform Infrared Spectroscopy )
모델명 :
IRAffinity-1
| 제작사 :
Shimadzu
| 구입년도 :
2011
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| 87 |
푸리에 변환 적외선 분광기 (FT-IR(Fourier Transform Infrared Spectroscopy))
모델명 :
Agilent Cary 630 FTIR
| 제작사 :
Agilent Technologies
| 구입년도 :
2015
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| 86 |
푸리에 변환 적외선 분광기 (FT-IR Fourier Transform Infrared Spectrometer)
모델명 :
TENSOR27 (Bruker)
| 제작사 :
Bruker
| 구입년도 :
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