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DATA ARCHIEVE
서울소재 기업들의 다양한 연구장비 활용을 도모하고자 서울주요 대학에서 보유하고 있는 연구장비 현황을 제공합니다.
| No. | 장비명 |
|---|---|
| 765 |
공초점현미경(컨포컬) (Confocal Microscope(+Super-resolution))
모델명 :
SP8X
| 제작사 :
LEICA(독일)
| 구입년도 :
2013
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| 764 |
공촛점 현미경 700 (Confocal Microscope_700_Carl Zeiss)
모델명 :
LSM 700
| 제작사 :
Carl Zeiss
| 구입년도 :
|
| 763 |
광각 X선 산란분석기 (X-Ray scattering system)
모델명 :
D8 Discover
| 제작사 :
Bruker(Germany)
| 구입년도 :
2016
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| 762 |
광전자 분광기(국제) (X-Ray Photoelectron Spectroscopy)
모델명 :
K-ALPHA
| 제작사 :
Thermo Fisher Scientific
| 구입년도 :
|
| 761 |
광전자분석기 Depth profile (국제) (XPS_Depth profile)
모델명 :
K-ALPHA
| 제작사 :
Thermo Fisher Scientific
| 구입년도 :
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| 760 |
광학현미경 (Optical Microscope)
모델명 :
BA310MET
| 제작사 :
company
| 구입년도 :
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| 759 |
광학현미경 (Microscope)
모델명 :
BX41M
| 제작사 :
OLYMPUS
| 구입년도 :
2014
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| 758 |
구면수차보정 주사투과전자현미경 (Cs corrected STEM with Cold FEG(Cs-STEM))
모델명 :
JEM-ARM200F (Cold Field Emission Type, JEOL)
| 제작사 :
JEOL
| 구입년도 :
2015
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| 757 |
구면수차보정 투과전자현미경 (Cs corrected TEM with Cold FEG(Cs-TEM))
모델명 :
JEM-ARM200F (Cold Field Emission Type)
| 제작사 :
| 구입년도 :
2015
|
| 756 |
구면수차보정투과전자현미경 (HRTEMⅢ(Cs_corrected/EDS/EELS))
모델명 :
JEM ARM 200F
| 제작사 :
JEOL
| 구입년도 :
2011
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