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DATA ARCHIEVE

서울소재 기업들의 다양한 연구장비 활용을 도모하고자 서울주요 대학에서 보유하고 있는 연구장비 현황을 제공합니다.

No. 장비명
265

전계방사 주사전자현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope(FE-SEM 7800F Prime))

모델명 : JSM-7800F Prime (JEOL Ltd) | 제작사 : JEOL Ltd | 구입년도 : 2015
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 서울대학교 기초과학공동기기원

264

전계방사주사전자현미경 FESEM,AURIGA (Field-Emission Scanning Electron Microscope)

모델명 : AURIGA | 제작사 : Carl Zeiss(독일) | 구입년도 : 2010
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 서울대학교 농생명과학공동기기원

263

전계방사주사전자현미경 FESEM,SIGMA (Field-Emission Scanning Electron Microscope)

모델명 : SIGMA | 제작사 : Carl Zeiss(독일) | 구입년도 : 2014
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 서울대학교 농생명과학공동기기원

262

전계방사주사전자현미경 FESEM,SUPRA (Field-Emission Scanning Electron Microscope)

모델명 : SUPRA 55VP | 제작사 : Carl Zeiss(독일) | 구입년도 : 2008
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 서울대학교 농생명과학공동기기원

261

전계방사주사전자현미경 I (FESEMⅠ/ EDS)

모델명 : JSM6700F | 제작사 : JEOL | 구입년도 : 2002
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 성균관대학교 공동기기원

260

전계방사주사전자현미경 III (FESEMⅢ/EDS )

모델명 : JSM7500F | 제작사 : JEOL | 구입년도 : 2007
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 성균관대학교 공동기기원

259

전계방사형 전자현미경 (FE-SEM)

모델명 : JEOL JSM-7600F | 제작사 : | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 숙명여자대학교 공동기기실

258

전계방사형 주사전자현미경 (FE-SEM)

모델명 : SIGMA | 제작사 : Carl Zeiss | 구입년도 : 2010
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 분석 | 보유기관 : 중앙대학교(서울) 공동기기센터

257

전계방사형주사전자현미경 (FESEM/EBSD(4300SE))

모델명 : S-4800 | 제작사 : HITACHI | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 고려대학교 공과대학

256

전계방사형주사전자현미경 (FESEM/EDX(4300))

모델명 : S-4300 | 제작사 : HITACHI | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 고려대학교 공과대학