DATA ARCHIEVE
서울소재 기업들의 다양한 연구장비 활용을 도모하고자 서울주요 대학에서 보유하고 있는 연구장비 현황을 제공합니다.
| No. | 장비명 |
|---|---|
| 265 |
전계방사 주사전자현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope(FE-SEM 7800F Prime))
모델명 :
JSM-7800F Prime (JEOL Ltd)
| 제작사 :
JEOL Ltd
| 구입년도 :
2015
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| 264 |
전계방사주사전자현미경 FESEM,AURIGA (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
모델명 :
AURIGA
| 제작사 :
Carl Zeiss(독일)
| 구입년도 :
2010
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| 263 |
전계방사주사전자현미경 FESEM,SIGMA (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
모델명 :
SIGMA
| 제작사 :
Carl Zeiss(독일)
| 구입년도 :
2014
|
| 262 |
전계방사주사전자현미경 FESEM,SUPRA (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
모델명 :
SUPRA 55VP
| 제작사 :
Carl Zeiss(독일)
| 구입년도 :
2008
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| 261 |
전계방사주사전자현미경 I (FESEMⅠ/ EDS)
모델명 :
JSM6700F
| 제작사 :
JEOL
| 구입년도 :
2002
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| 260 |
전계방사주사전자현미경 III (FESEMⅢ/EDS )
모델명 :
JSM7500F
| 제작사 :
JEOL
| 구입년도 :
2007
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| 259 |
전계방사형 전자현미경 (FE-SEM)
모델명 :
JEOL JSM-7600F
| 제작사 :
| 구입년도 :
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| 258 |
전계방사형 주사전자현미경 (FE-SEM)
모델명 :
SIGMA
| 제작사 :
Carl Zeiss
| 구입년도 :
2010
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| 257 |
전계방사형주사전자현미경 (FESEM/EBSD(4300SE))
모델명 :
S-4800
| 제작사 :
HITACHI
| 구입년도 :
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| 256 |
전계방사형주사전자현미경 (FESEM/EDX(4300))
모델명 :
S-4300
| 제작사 :
HITACHI
| 구입년도 :
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