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DATA ARCHIEVE

서울소재 기업들의 다양한 연구장비 활용을 도모하고자 서울주요 대학에서 보유하고 있는 연구장비 현황을 제공합니다.

No. 장비명
205

주사열량계 (Differential Scanning Calorimeter )

모델명 : DSC4000 | 제작사 : PerkinElmer | 구입년도 : 2012
분류 : 물리적측정장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 가톨릭대학교 성심공동기기센터

204

주사전자현미경 (SEM )

모델명 : S-3400N | 제작사 : Hitachi | 구입년도 : 2007
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 분석 | 보유기관 : 중앙대학교(서울) 공동기기센터

203

주사전자현미경 (Scanning electron microscope)

모델명 : JEOL JSM-5600LV | 제작사 : JEOL | 구입년도 : 1999
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 상명대학교 중앙기기센터

202

주사전자현미경 (SEM)

모델명 : JEOL JSM-6390 | 제작사 : JEOL | 구입년도 : 2007
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 세종대학교 공동기기센터

201

주사전자현미경 (FE-SEM 7401F Only Self-User)

모델명 : JSM-7401F | 제작사 : JEOL LTD (JAPAN) | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 국민대학교 공동실험기기센터

200

주사전자현미경 (NOVA NANO SEM)

모델명 : nova nano sem | 제작사 : | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 분석 | 보유기관 : 한양대학교 서울공동기기원

199

주사전자현미경 (Analytical Field Emission SEM 7610F)

모델명 : JSM-7610F | 제작사 : JEOL LTD (JAPAN) | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 국민대학교 공동실험기기센터

198

주사전자현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope)

모델명 : | 제작사 : | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 고려대학교 공과대학

197

주사전자현미경 (EBL)

모델명 : MIRA3 | 제작사 : TESCAN | 구입년도 :
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 고려대학교 공과대학

196

주사전자현미경 (SEM)

모델명 : JSM-6390A | 제작사 : JEOL | 구입년도 : 2007
분류 : 광학/전자영상장비 | 용도 : 시험 | 보유기관 : 성균관대학교 공동기기원