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DATA ARCHIEVE

서울소재 기업들의 기술사업화를 지원하기 위하여 서울주요대학에서 보유한 특허현황을 제공합니다.

No. 특허내용
2138

비례-적분-미분 제어 장치 및 방법(PROPORTIONAL-INTEGRATE-DERIVATIVE CONROL APPARATUS AND METHOD)

출원번호 : 1020070014009 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 삼성전자주식회사|재단법인서울대학교산학협력재단

2137

CAN 시스템에서의 타임 트리거 기반의 메시지 스케줄링방법, 장치 및 시스템(Time-triggered message scheduling method in CAN system and device, system thereof)

출원번호 : 1020070014019 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 한양대학교 산학협력단

2136

과전압 및 역전압 보호 기능을 갖춘 저감압 레귤레이터회로 및 그 방법(Low drop-out regulator circuit with over-voltage and reverse-voltage protection and the method thereof)

출원번호 : 1020070013976 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 재단법인서울대학교산학협력재단

2135

걸음걸이를 이용한 생체 인식 방법(Gait recognition method)

출원번호 : 1020070013594 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 연세대학교 산학협력단

2134

무선랜 시스템에서 최적의 전송률을 추정하기 위한 방법(Method for Estimating Optimized Transmission Bit Rate in Wireless Local Area Network System)

출원번호 : 1020070013583 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 재단법인서울대학교산학협력재단

2133

심전도 잡음 제거 수단을 구비한 뇌전도 검사 장치 및 방법(A EEG apparatus with ECG Artifact elimination device and the method thereof)

출원번호 : 1020070013484 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 연세대학교 산학협력단

2132

다중 문턱값을 이용한 핸드오프 방법 및 그 장치(METHOD AND APPARATUS FOR HANDOFF USING MULTI-THRESHOLD)

출원번호 : 1020070013457 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 연세대학교 산학협력단

2131

이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법(Method of Test and Diagnosis for Dual-Port Memories)

출원번호 : 1020070013455 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 연세대학교 산학협력단

2130

복수의 최대값 회로를 이용한 픽셀 어레이 광학 위치검출기와 그 최대 픽셀 검출 방법(Pixel array PSD with devided-by-M WTA architecture and its winner pixel detection method)

출원번호 : 1020070013921 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 연세대학교 산학협력단

2129

단결정 실리콘층을 지지 기판에 부착하는 방법 및 단결정실리콘층이 부착된 지지 기판을 제조하는 방법(Method For Attaching Single Crystalline Silicon layer To Supporting Substrate)

출원번호 : 1020070013777 | 출원일 : 2007.02.09 | 출원인 : 연세대학교 산학협력단